Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins - Instrumentation et étude de la microstructure

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DATE DE PUBLICATION 2006-Sep-01
AUTEUR René Guinebretière
ISBN 9782746212381
TAILLE DU FICHIER 1,18 MB
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DESCRIPTION
Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins. Dans sa deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées.
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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Instrumentation et étude de la microstructure René Guinebretière (0 avis) Donner votre avis. 362 pages, parution le 18/10/2006 (2 eme édition) Livre papier. 98,00 € Indisponible Résumé. Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons ...

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